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双束扫描电子显微镜(DB-FIB)是将聚焦离子束和扫描电子束集成在一台显微镜上,再加装气体注入系统(GIS)和纳米机械手等配件,从而实现刻蚀、材料沉积、微纳加工等许多功能的仪器。广电计量能提供一站式双束扫描电子显微镜检测,材料微观分析服务。
电子元器件失效分析经常用到的检查分析方法简单可以归类为无损分析、有损分析。有损分析就是对器件进行各种微观解剖分析,其首要要求就是在避免人为损伤的前提下,展现内部缺陷形貌。离子研磨(CP)测试是切片制样技术常用到的先进辅助技术。广电计量提供离子研磨测试,材料CP检测服务。
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